本书以光子型红外探测器为论述主体，内容聚焦于Si、InSb、InGaAs、HgCdTe、QWIP等几种发展成熟且有重要而广泛应用的探测器以及若干新型探测器。对其原理、结构、性能特点、工艺技术路线和测试评价技术作了较为详尽的介绍。对近年来迅速发展的红外焦平面成像阵列，从其原理、信号读出、关键技术到性能特点等方面作了比较系统、深入的讨论。