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Ultramicroscopy是工程技术领域的一本优秀期刊。由Elsevier出版社出版。该期刊主要发表工程技术领域的原创性研究成果。创刊于1975年,该期刊主要刊载工程技术-显微镜技术及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展,更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准,确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外,该刊同时被SCIE数据库收录,并被划分为中科院SCI3区期刊,它始终坚持创新,不断专注于发布高度有价值的研究成果,不断推动工程技术领域的进步。
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大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 | 2区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 | 1区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 | 1区 | 是 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 | 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 | 1区 | 是 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | MICROSCOPY 显微镜技术 | 1区 | 是 | 否 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:MICROSCOPY | SCIE | Q2 | 3 / 8 |
68.8% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:MICROSCOPY | SCIE | Q1 | 2 / 8 |
81.25% |
学科类别 | 分区 | 排名 | 百分位 |
大类:Physics and Astronomy 小类:Instrumentation | Q2 | 49 / 141 |
65% |
大类:Physics and Astronomy 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q2 | 85 / 224 |
62% |
大类:Physics and Astronomy 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q2 | 113 / 284 |
60% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年发文量 | 137 | 206 | 160 | 216 | 213 | 195 | 160 | 158 | 98 | 143 |
国家/地区 | 数量 |
USA | 149 |
GERMANY (FED REP GER) | 112 |
CHINA MAINLAND | 82 |
France | 54 |
England | 51 |
Japan | 45 |
Netherlands | 34 |
Belgium | 26 |
Canada | 24 |
Australia | 20 |
机构 | 数量 |
UNITED STATES DEPARTMENT OF ENERGY (DOE) | 42 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) | 36 |
HELMHOLTZ ASSOCIATION | 34 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 23 |
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 21 |
MAX PLANCK SOCIETY | 20 |
NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA | 14 |
UNIVERSITY OF ANTWERP | 14 |
IMEC | 12 |
UNIVERSITY OF OXFORD | 12 |
文章名称 | 引用次数 |
Dr. Probe: A software for high-resolution STEM image simulation | 36 |
Progress in ultrahigh energy resolution EELS | 18 |
Robust workflow and instrumentation for cryo-focused ion beam milling of samples for electron cryotomography | 16 |
Theory of the spatial resolution of (scanning) transmission electron microscopy in liquid water or ice layers | 14 |
A hybrid genetic-Levenberg Marquardt algorithm for automated spectrometer design optimization | 13 |
Demonstration of a 2 x 2 programmable phase plate for electrons | 13 |
The energy dependence of contrast and damage in electron cryomicroscopy of biological molecules | 13 |
Development of a high brightness ultrafast Transmission Electron Microscope based on a laser-driven cold field emission source | 12 |
Picometer-scale atom position analysis in annular bright-field STEM imaging | 11 |
A deep convolutional neural network to analyze position averaged convergent beam electron diffraction patterns | 11 |
SCIE
影响因子 1.5
CiteScore 2.8
SCIE
影响因子 1.5
CiteScore 3.6
SCIE
CiteScore 8.9
SCIE
影响因子 0.5
CiteScore 1.8
SCIE
影响因子 2.2
CiteScore 6.5
SCIE
影响因子 0.4
CiteScore 2.2
SCIE SSCI
影响因子 4.1
CiteScore 7.1
SCIE SSCI
影响因子 0.9
CiteScore 1.5
SCIE SSCI
影响因子 12.5
CiteScore 22.1
SCIE
影响因子 4.5
CiteScore 8.1
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