Metrologia
人气:42

Metrologia SCIE

  • ISSN:0026-1394
  • 出版商:IOP Publishing Ltd.
  • 出版语言:English
  • E-ISSN:1681-7575
  • 出版地区:FRANCE
  • 是否预警:
  • 创刊时间:1965
  • 出版周期:Bimonthly
  • TOP期刊:
  • 影响因子:2.1
  • 是否OA:未开放
  • CiteScore:2.8
  • H-index:67
  • 研究类文章占比:96.34%
  • Gold OA文章占比:44.49%
  • 文章自引率:0.25
  • 开源占比:0.3262
  • OA被引用占比:0.4136...
  • 出版国人文章占比:0.06
  • 出版修正文章占比:0.0090...
  • 国际标准简称:METROLOGIA
  • 涉及的研究方向:工程技术-物理:应用
  • 中文名称:计量学
  • 预计审稿周期: 偏慢,4-8周
国内分区信息:

大类学科:工程技术  中科院分区  3区

国际分区信息:

JCR学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION、PHYSICS, APPLIED  JCR分区  Q2

  • 影响因子:2.1
  • Gold OA文章占比:44.49%
  • OA被引用占比:0.4136...
  • CiteScore:2.8
  • 研究类文章占比:96.34%
  • 开源占比:0.3262
  • 文章自引率:0.25
  • 出版国人文章占比:0.06

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Metrologia 期刊简介

Metrologia是工程技术领域的一本优秀期刊。由IOP Publishing Ltd.出版社出版。该期刊主要发表工程技术领域的原创性研究成果。创刊于1965年,该期刊主要刊载工程技术-物理:应用及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展,更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准,确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外,该刊同时被SCIE数据库收录,并被划分为中科院SCI3区期刊,它始终坚持创新,不断专注于发布高度有价值的研究成果,不断推动工程技术领域的进步。

同时,我们注重来稿文章表述的清晰度,以及其与我们的读者群体和研究领域的相关性。为此,我们期待所有投稿的文章能够保持简洁明了、组织有序、表述清晰。该期刊平均审稿速度为平均 偏慢,4-8周 。若您对于稿件是否适合该期刊存在疑虑,建议您在提交前主动与期刊主编取得联系,或咨询本站的客服老师。我们的客服老师将根据您的研究内容和方向,为您推荐最为合适的期刊,助力您顺利投稿,实现学术成果的顺利发表。

Metrologia 期刊国内分区信息

中科院分区 2023年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 2区 3区
中科院分区 2022年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区
中科院分区 2021年12月旧的升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区
中科院分区 2021年12月基础版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区
中科院分区 2021年12月升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 3区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 3区 3区
中科院分区 2020年12月旧的升级版
大类学科 分区 小类学科 分区 Top期刊 综述期刊
工程技术 2区 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 2区 2区

Metrologia 期刊国际分区信息(2023-2024年最新版)

按JIF指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q2 38 / 76

50.7%

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 109 / 179

39.4%

按JCI指标学科分区 收录子集 分区 排名 百分位
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION SCIE Q3 46 / 76

40.13%

学科:PHYSICS, APPLIED SCIE Q3 106 / 179

41.06%

CiteScore指数(2024年最新版)

  • CiteScore:2.8
  • SJR:0.417
  • SNIP:0.969
学科类别 分区 排名 百分位
大类:Engineering 小类:General Engineering Q2 128 / 307

58%

期刊评价数据趋势图

中科院分区趋势图
Created with Highcharts 4.2.6大类分区大类分区2014年2015年2016年2017年2018年2019年2020年2021年2022年0.511.522.533.5
期刊影响因子和自引率趋势图
Created with Highcharts 4.2.6影响因子自引率影响因子自引率2015年2016年2017年2018年2019年2020年2021年2022年2023年01234501020304050

发文统计

年发文量统计
年份 2014 2015 2016 2017 2018 2019 2020 2021 2022 2023
年发文量 107 128 108 100 179 97 111 92 80 82
国家/地区发文量统计
国家/地区 数量
France 156
GERMANY (FED REP GER) 131
USA 112
CHINA MAINLAND 105
England 94
Japan 85
South Korea 80
Italy 68
Turkey 59
Russia 49
机构发文量统计
机构 数量
PHYSIKALISCH-TECHNISCHE BUNDESANSTALT (PTB) 109
NATIONAL INSTITUTE OF STANDARDS & TECHNOLOGY (NIST) - USA 93
KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS & SCIENCE (KRISS) 75
NATIONAL METROLOGY INSTITUTE OF JAPAN 73
NATIONAL PHYSICAL LABORATORY - UK 73
NATIONAL INSTITUTE OF ADVANCED INDUSTRIAL SCIENCE & TECHNOLOGY (AIST) 70
NATIONAL INSTITUTE OF METROLOGY CHINA 67
ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA METROLOGICA (INRIM) 56
BUR INT POIDS & MESURES 46
TURKIYE BILIMSEL VE TEKNOLOJIK ARASTIRMA KURUMU (TUBITAK) 43

高引用文章

文章名称 引用次数
The CODATA 2017 values of h, e, k, and N-A for the revision of the SI 50
The CIPM list of recommended frequency standard values: guidelines and procedures 31
Data and analysis for the CODATA 2017 special fundamental constants adjustment 30
JILA SrI optical lattice clock with uncertainty of 2.0 x 10(-18) 22
Advances in the accuracy, stability, and reliability of the PTB primary fountain clocks 22
The revision of the SI-the result of three decades of progress in metrology 19
Applying principles of metrology to historical Earth observations from satellites 12
Shift evaluation of the atomic gravimeter NIM-AGRb-1 and its comparison with FG5X 12
Refractive-index gas thermometry 11
Quantum imaging with sub-Poissonian light: challenges and perspectives in optical metrology 10

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