推荐合适期刊 投稿指导 助力快速见刊免费咨询
Ieee Sensors Journal是综合性期刊领域的一本权威期刊。由Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.出版社出版。该期刊主要发表综合性期刊领域的原创性研究成果。创刊于2001年,是综合性期刊领域中具有代表性的学术刊物。该期刊主要刊载工程:电子与电气-工程技术及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展,更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准,确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外,该刊同时被SCIE数据库收录,并被划分为中科院SCI2区期刊,它始终坚持创新,不断专注于发布高度有价值的研究成果,不断推动综合性期刊领域的进步。
同时,我们注重来稿文章表述的清晰度,以及其与我们的读者群体和研究领域的相关性。为此,我们期待所有投稿的文章能够保持简洁明了、组织有序、表述清晰。该期刊平均审稿速度为平均 约6.3个月 。若您对于稿件是否适合该期刊存在疑虑,建议您在提交前主动与期刊主编取得联系,或咨询本站的客服老师。我们的客服老师将根据您的研究内容和方向,为您推荐最为合适的期刊,助力您顺利投稿,实现学术成果的顺利发表。
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
综合性期刊 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 | 2区 2区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
综合性期刊 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 | 2区 2区 3区 | 是 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 | 2区 2区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 3区 | ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 3区 3区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 | 2区 2区 3区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 2区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程:电子与电气 | 2区 2区 3区 | 否 | 否 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q1 | 83 / 352 |
76.6% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 15 / 76 |
80.9% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q2 | 48 / 179 |
73.5% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC | SCIE | Q2 | 99 / 354 |
72.18% |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q1 | 15 / 76 |
80.92% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q1 | 39 / 179 |
78.49% |
学科类别 | 分区 | 排名 | 百分位 |
大类:Physics and Astronomy 小类:Instrumentation | Q1 | 20 / 141 |
86% |
大类:Physics and Astronomy 小类:Electrical and Electronic Engineering | Q1 | 148 / 797 |
81% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年发文量 | 534 | 852 | 1059 | 931 | 1138 | 1361 | 1603 | 2808 | 2422 | 3190 |
国家/地区 | 数量 |
CHINA MAINLAND | 1543 |
USA | 516 |
India | 466 |
England | 256 |
South Korea | 193 |
Canada | 174 |
Taiwan | 170 |
Iran | 167 |
Italy | 142 |
Spain | 119 |
机构 | 数量 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM) | 202 |
BEIHANG UNIVERSITY | 116 |
CHINESE ACADEMY OF SCIENCES | 100 |
NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYSTEM) | 67 |
TIANJIN UNIVERSITY | 63 |
XIDIAN UNIVERSITY | 58 |
HARBIN INSTITUTE OF TECHNOLOGY | 57 |
SHANGHAI JIAO TONG UNIVERSITY | 56 |
NATIONAL UNIVERSITY OF DEFENSE TECHNOLOGY - CHINA | 52 |
UNIVERSITY OF ELECTRONIC SCIENCE & TECHNOLOGY OF CHINA | 49 |
文章名称 | 引用次数 |
Multi-Objective Three-Dimensional DV-Hop Localization Algorithm With NSGA-II | 65 |
Differential Sensors Using Microstrip Lines Loaded With Two Split-Ring Resonators | 39 |
A Novel Approach for Spectroscopic Chemical Identification Using Photonic Crystal Fiber in the Terahertz Regime | 37 |
Ru-InN Monolayer as a Gas Scavenger to Guard the Operation Status of SF6 Insulation Devices: A First-Principles Theory | 31 |
Fault Detection in Wireless Sensor Networks Through SVM Classifier | 29 |
EAPC: Energy-Aware Path Construction for Data Collection Using Mobile Sink in Wireless Sensor Networks | 28 |
Spiral Photonic Crystal Fiber-Based Dual-Polarized Surface Plasmon Resonance Biosensor | 28 |
Split Ring Resonator-Based Microwave Fluidic Sensors for Electrolyte Concentration Measurements | 27 |
Deep-Learning-Based Earth Fault Detection Using Continuous Wavelet Transform and Convolutional Neural Network in Resonant Grounding Distribution Systems | 23 |
Design of a Wireless Sensor Network-Based IoT Platform for Wide Area and Heterogeneous Applications | 23 |
SCIE
CiteScore 2.6
SCIE
CiteScore 38.3
SCIE
影响因子 7.9
CiteScore 11.4
SCIE
影响因子 5.7
CiteScore 7.4
SCIE
影响因子 3.4
CiteScore 4.5
SCIE
影响因子 3.1
CiteScore 0.5
SCIE
影响因子 1
CiteScore 2.1
SCIE
影响因子 2.9
CiteScore 5.4
SCIE
影响因子 4.4
CiteScore 8.7
SCIE
影响因子 4.6
CiteScore 7.2
若用户需要出版服务,请联系出版商:IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ENGINEERS INC, 445 HOES LANE, PISCATAWAY, USA, NJ, 08855-4141。