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Optics And Spectroscopy是物理与天体物理领域的一本优秀期刊。由Pleiades Publishing出版社出版。该期刊主要发表物理与天体物理领域的原创性研究成果。创刊于2000年,该期刊主要刊载物理-光谱学及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展,更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准,确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外,该刊同时被SCIE数据库收录,并被划分为中科院SCI4区期刊,它始终坚持创新,不断专注于发布高度有价值的研究成果,不断推动物理与天体物理领域的进步。
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大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 4区 | OPTICS 光学 SPECTROSCOPY 光谱学 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 4区 | OPTICS 光学 SPECTROSCOPY 光谱学 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 4区 | OPTICS 光学 SPECTROSCOPY 光谱学 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理 | 4区 | OPTICS 光学 SPECTROSCOPY 光谱学 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 4区 | OPTICS 光学 SPECTROSCOPY 光谱学 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
物理与天体物理 | 4区 | OPTICS 光学 SPECTROSCOPY 光谱学 | 4区 4区 | 否 | 否 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:OPTICS | SCIE | Q4 | 104 / 119 |
13% |
学科:SPECTROSCOPY | SCIE | Q4 | 35 / 44 |
21.6% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:OPTICS | SCIE | Q4 | 107 / 120 |
11.25% |
学科:SPECTROSCOPY | SCIE | Q4 | 42 / 44 |
5.68% |
学科类别 | 分区 | 排名 | 百分位 |
大类:Materials Science 小类:Electronic, Optical and Magnetic Materials | Q4 | 217 / 284 |
23% |
大类:Materials Science 小类:Atomic and Molecular Physics, and Optics | Q4 | 172 / 224 |
23% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年发文量 | 302 | 297 | 282 | 281 | 302 | 255 | 286 | 168 | 75 | 113 |
文章名称 | 引用次数 |
Interactions of Intense Extremely Short Pulses with Quantum Objects | 11 |
Optical Materials for the THz Range | 11 |
Electrodynamical Characteristics of -Lactose Monohydrate in the Terahertz Range | 9 |
Nonlinear Interface Waves in a Trilayered Optical Structure with Different Layer Characteristics and Internal Self-Focusing | 8 |
Optical-Energy Properties of CdS Thin Films Obtained by the Method of High-Frequency Magnetron Sputtering | 8 |
Mechanisms of ZnO Luminescence in the Visible Spectral Region | 7 |
Analysis of Experimental Results by the Havriliak-Negami Model in Dielectric Spectroscopy | 7 |
The Current Status of the Development of Light-Sensitive Media for Holography (a Review) | 7 |
Extreme and Topological Nonlinear Optics of Open Systems | 7 |
Determining the Compositional Profile of HgTe/CdxHg1-xTe Quantum Wells by Single-Wavelength Ellipsometry | 7 |
SCIE
影响因子 4.2
CiteScore 1.5
SCIE
影响因子 0.9
CiteScore 1.6
SCIE
影响因子 1.8
CiteScore 3.1
SCIE
影响因子 2.7
CiteScore 6.9
SCIE
影响因子 0.5
CiteScore 1.4
SCIE
CiteScore 4
SCIE
影响因子 4.8
CiteScore 6.7
SCIE
CiteScore 2.8
SCIE
影响因子 0.7
CiteScore 1.4
SCIE
影响因子 1.3
CiteScore 2.7
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