Journal Of Electronic Testing-theory And Applications期刊_Springer US出版商

影响因子：1.1
Gold OA文章占比：9.56%
OA被引用占比：0.0092...
CiteScore：2
研究类文章占比：100.00%
开源占比：0.047
文章自引率：0.1111...

推荐合适期刊投稿指导助力快速见刊免费咨询

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 期刊简介

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications是工程技术领域的一本优秀期刊。由Springer US出版社出版。该期刊主要发表工程技术领域的原创性研究成果。创刊于1990年，该期刊主要刊载工程：电子与电气-工程技术及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展，更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准，确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外，该刊同时被SCIE数据库收录，并被划分为中科院SCI4区期刊，它始终坚持创新，不断专注于发布高度有价值的研究成果，不断推动工程技术领域的进步。

同时，我们注重来稿文章表述的清晰度，以及其与我们的读者群体和研究领域的相关性。为此，我们期待所有投稿的文章能够保持简洁明了、组织有序、表述清晰。该期刊平均审稿速度为平均较慢,6-12周。若您对于稿件是否适合该期刊存在疑虑，建议您在提交前主动与期刊主编取得联系，或咨询本站的客服老师。我们的客服老师将根据您的研究内容和方向，为您推荐最为合适的期刊，助力您顺利投稿，实现学术成果的顺利发表。

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 期刊国内分区信息

中科院分区 2023年12月升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区	否	否

中科院分区 2022年12月升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区	否	否

中科院分区 2021年12月旧的升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区	否	否

中科院分区 2021年12月基础版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区	否	否

中科院分区 2021年12月升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区	否	否

中科院分区 2020年12月旧的升级版

大类学科	分区	小类学科	分区	Top期刊	综述期刊
工程技术	4区	ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC 工程：电子与电气	4区	否	否

Journal Of Electronic Testing-theory And Applications 期刊国际分区信息（2023-2024年最新版）

按JIF指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q4	278 / 352	21.2%

按JCI指标学科分区	收录子集	分区	排名	百分位
学科：ENGINEERING, ELECTRICAL & ELECTRONIC	SCIE	Q4	293 / 354	17.37%

CiteScore指数（2024年最新版）

CiteScore：2
SJR：0.271
SNIP：0.518

学科类别	分区	排名	百分位
大类：Engineering 小类：Electrical and Electronic Engineering	Q3	495 / 797	37%

期刊评价数据趋势图

中科院分区趋势图

期刊影响因子和自引率趋势图

发文统计

年发文量统计

年份	2014	2015	2016	2017	2018	2019	2020	2021	2022	2023
年发文量	58	44	57	55	54	62	55	47	46	43

高引用文章

文章名称	引用次数
Machine Learning for Hardware Security: Opportunities and Risks	10
Security Analysis of the Efficient Chaos Pseudo-random Number Generator Applied to Video Encryption	6
Single Event Transient Propagation Probabilities Analysis for Nanometer CMOS Circuits	5
Test and Reliability in Approximate Computing	5
An Extensible Code for Correcting Multiple Cell Upset in Memory Arrays	4
Impact of Aging on the Reliability of Delay PUFs	3
Hardware Trojan Detection Using an Advised Genetic Algorithm Based Logic Testing	3
Test Generation for Bridging Faults in Reversible Circuits Using Path-Level Expressions	3
A Low-Cost Test Solution for Reliable Communication in Networks-on-Chip	3
The Fundamental Primitives with Fault-Tolerance in Quantum-Dot Cellular Automata	3