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Mapan-journal Of Metrology Society Of India是工程技术领域的一本优秀期刊。由Springer India出版社出版。该期刊主要发表工程技术领域的原创性研究成果。创刊于2009年,该期刊主要刊载工程技术-物理:应用及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展,更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准,确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外,该刊同时被SCIE数据库收录,并被划分为中科院SCI4区期刊,它始终坚持创新,不断专注于发布高度有价值的研究成果,不断推动工程技术领域的进步。
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大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 4区 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
工程技术 | 4区 | INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION 仪器仪表 PHYSICS, APPLIED 物理:应用 | 4区 4区 | 否 | 否 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 62 / 76 |
19.1% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 157 / 179 |
12.6% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:INSTRUMENTS & INSTRUMENTATION | SCIE | Q4 | 68 / 76 |
11.18% |
学科:PHYSICS, APPLIED | SCIE | Q4 | 152 / 179 |
15.36% |
学科类别 | 分区 | 排名 | 百分位 |
大类:Physics and Astronomy 小类:Physics and Astronomy (miscellaneous) | Q2 | 40 / 81 |
51% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年发文量 | 34 | 37 | 35 | 41 | 51 | 57 | 74 | 92 | 89 | 98 |
国家/地区 | 数量 |
India | 98 |
CHINA MAINLAND | 22 |
Egypt | 14 |
Indonesia | 6 |
Turkey | 6 |
Iran | 5 |
Italy | 5 |
South Korea | 5 |
Lithuania | 4 |
Malaysia | 4 |
机构 | 数量 |
COUNCIL OF SCIENTIFIC & INDUSTRIAL RESEARCH (CSIR) - INDIA | 57 |
CSIR - NATIONAL PHYSICAL LABORATORY (NPL) | 53 |
ACADEMY OF SCIENTIFIC & INNOVATIVE RESEARCH (ACSIR) | 26 |
NATIONAL INSTITUTE FOR STANDARDS (NIS) | 14 |
NATIONAL INSTITUTE OF TECHNOLOGY (NIT SYSTEM) | 14 |
INDIAN INSTITUTE OF TECHNOLOGY SYSTEM (IIT SYSTEM) | 12 |
THAPAR INSTITUTE OF ENGINEERING & TECHNOLOGY | 7 |
ISTITUTO NAZIONALE DI RICERCA METROLOGICA (INRIM) | 5 |
KAUNAS UNIVERSITY OF TECHNOLOGY | 4 |
KOREA RESEARCH INSTITUTE OF STANDARDS & SCIENCE (KRISS) | 4 |
文章名称 | 引用次数 |
Role of National Pressure and Vacuum Metrology in Indian Industrial Growth and Their Global Metrological Equivalence | 6 |
Contributions of National Standards on the growth of Barometric Pressure and Vacuum Industries | 5 |
Epidemiological Study on Respiratory Health of School Children of Rural Sites of Malwa Region (India) During Post-harvest Stubble Burning Events | 5 |
A Non-destructive FTIR Method for the Determination of Ammonium and Sulfate in Urban PM2.5 Samples | 4 |
Performance Analysis of Hybrid Optical Amplifiers for Super Dense Wavelength Division Multiplexing System in the Scenario of Reduced Channel Spacing | 4 |
FEA-Based Design Studies for Development of Diaphragm Force Transducers | 4 |
Reconstruction Method Adopting Laser Plane Generated from RANSAC and Three Dimensional Reference | 3 |
Investigations on Metaheuristic Algorithm for Designing Adaptive PID Controller for Continuous Stirred Tank Reactor | 3 |
Signal Averaging for Noise Reduction in Mobile Robot 3D Measurement System | 3 |
Development and Realization of Iron-Carbon Eutectic Fixed Point at NPLI | 2 |
SCIE
影响因子 1.5
CiteScore 2.8
SCIE
影响因子 1.5
CiteScore 3.6
SCIE
CiteScore 8.9
SCIE
影响因子 0.5
CiteScore 1.8
SCIE
影响因子 2.2
CiteScore 6.5
SCIE
影响因子 0.4
CiteScore 2.2
SCIE SSCI
影响因子 4.1
CiteScore 7.1
SCIE SSCI
影响因子 0.9
CiteScore 1.5
SCIE SSCI
影响因子 12.5
CiteScore 22.1
SCIE
影响因子 4.5
CiteScore 8.1
若用户需要出版服务,请联系出版商:METROLOGY SOC INDIA, NPL PREMISES, DR K S KRISHNAN MARG, NEW DELHI, INDIA, 110 012。