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Sequential Analysis-design Methods And Applications是数学领域的一本优秀期刊。由Taylor and Francis Ltd.出版社出版。该期刊主要发表数学领域的原创性研究成果。创刊于1982年,该期刊主要刊载STATISTICS & PROBABILITY及其基础研究的前瞻性、原始性、首创性研究成果、科技成就和进展。该期刊不仅收录了该领域的科技成就和进展,更以其深厚的学术积淀和卓越的审稿标准,确保每篇文章都具备高度的学术价值。此外,该刊同时被SCIE数据库收录,并被划分为中科院SCI4区期刊,它始终坚持创新,不断专注于发布高度有价值的研究成果,不断推动数学领域的进步。
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大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
数学 | 4区 | STATISTICS & PROBABILITY 统计学与概率论 | 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
数学 | 4区 | STATISTICS & PROBABILITY 统计学与概率论 | 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
数学 | 4区 | STATISTICS & PROBABILITY 统计学与概率论 | 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
数学 | 4区 | STATISTICS & PROBABILITY 统计学与概率论 | 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
数学 | 4区 | STATISTICS & PROBABILITY 统计学与概率论 | 4区 | 否 | 否 |
大类学科 | 分区 | 小类学科 | 分区 | Top期刊 | 综述期刊 |
数学 | 4区 | STATISTICS & PROBABILITY 统计学与概率论 | 4区 | 否 | 否 |
按JIF指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:STATISTICS & PROBABILITY | SCIE | Q4 | 137 / 168 |
18.8% |
按JCI指标学科分区 | 收录子集 | 分区 | 排名 | 百分位 |
学科:STATISTICS & PROBABILITY | SCIE | Q3 | 125 / 168 |
25.89% |
学科类别 | 分区 | 排名 | 百分位 |
大类:Mathematics 小类:Statistics and Probability | Q3 | 184 / 278 |
33% |
大类:Mathematics 小类:Modeling and Simulation | Q4 | 246 / 324 |
24% |
年份 | 2014 | 2015 | 2016 | 2017 | 2018 | 2019 | 2020 | 2021 | 2022 | 2023 |
年发文量 | 33 | 26 | 33 | 31 | 29 | 26 | 26 | 27 | 28 | 24 |
国家/地区 | 数量 |
USA | 44 |
India | 13 |
GERMANY (FED REP GER) | 5 |
Algeria | 3 |
CHINA MAINLAND | 3 |
France | 3 |
Sweden | 3 |
Belgium | 2 |
Brazil | 2 |
England | 2 |
机构 | 数量 |
UNIVERSITY OF CONNECTICUT | 12 |
UNIVERSITY SYSTEM OF GEORGIA | 6 |
UNIVERSITY OF CALIFORNIA SYSTEM | 5 |
UNIVERSITY OF DELHI | 4 |
CENTRE NATIONAL DE LA RECHERCHE SCIENTIFIQUE (CNRS) | 3 |
KALASALINGAM ACADEMY OF RESEARCH & EDUCATION | 3 |
STATE UNIVERSITY OF NEW YORK (SUNY) SYSTEM | 3 |
HELMUT SCHMIDT UNIVERSITY | 2 |
INDIAN STATISTICAL INSTITUTE | 2 |
NIAGARA UNIV | 2 |
文章名称 | 引用次数 |
Adaptive two-stage optimal designs for phase II clinical studies that allow early futility stopping | 4 |
Sequential testing of a Wiener process with costly observations | 4 |
Determination of multiple dependent state repetitive group sampling plan based on the process capability index | 3 |
Two-sample two-stage and purely sequential methodologies for tests of hypotheses with applications: comparing normal means when the two variances are unknown and unequal | 3 |
Multi-stage point estimation of the mean of an inverse Gaussian distribution | 3 |
EDA on the asymptotic normality of the standardized sequential stopping times, Part-I: Parametric models | 3 |
Two-stage estimation for a normal mean having a known lower bound of variance with final sample size defined via Gini's mean difference and mean absolute deviation | 2 |
Proportional closeness estimation of probability of contamination under group testing | 2 |
Zero-inflated count time series models using Gaussian copula | 2 |
Minimum risk sequential point estimation of the stress-strength reliability parameter for exponential distribution | 2 |
SCIE
影响因子 0.3
SCIE
影响因子 0.8
SCIE
影响因子 1.3
CiteScore 2.3
SCIE
影响因子 1
CiteScore 1.6
SCIE
影响因子 2.4
CiteScore 3.7
SCIE
影响因子 0.2
CiteScore 0.8
SCIE
影响因子 0.9
CiteScore 3.3
SCIE
影响因子 4.4
CiteScore 6.2
SCIE
影响因子 1
CiteScore 1.6
SCIE
影响因子 1.4
CiteScore 3.9
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